多视角测头介绍

该测头是为了解决复杂几何形体完整测量这一难题而开发的新一代专利产品.传统的光学测量方式一般从一个方向投射光,从另外一个或两个方向进行接收.由于物体自身遮挡而不可避免地产生测量盲区,这需要变换多个方向对物体上的同一区域进行多次测量.该测头同时从多个方向投射激光,从多个方向进行接收,即使在存在遮挡的情况下,也至少能从一个方向进行测量.在测头方向保持不变的情况下对三维几何形体进行完整测量,实现真正意义上的三维测量.

接口方式
可直接与Renishaw PH10M(Q)，PH10T，MH8等标准测座连接.
对无测座的测量设备可用附带的柔性测座通过M8螺纹接口与测头相连.

应用领域
该测头尤其适合测量结构复杂的工件和包含复杂特征的工件,如箱体类零件,铸件,薄壁件.这类工件包含孔,柱,槽,筋,支撑结构等特征,该测头可以在保持测量方向不变的情况下同时从多个方向完整测量这些特征.