最近更新: 2009.04.09
1.l 测头 probe
探测时能发送信号的装置.
1.2 接触式探测系统 contacting probing system
需与待测表面发生实体接触的探测系统.
1.3 非接触式探测系统 non-contact probing system
不需与待测表面发生实体接触的探测系统.
注:光学探测系统就是非接触式探测系统.
1.4 光学探测系统 optical probing system
用光学系统探测产生修正测量点的一种非接触式探测系统.
1.5 多测头系统 multi-probe system
具有多个测头的探测系统.
1.6 万向探测系统 articulating probing system
通过手动或机动调节装置调整不同的空间角度位置的探测系统.
1.7 探测系统的标定 probing system qualification
建立为以后测量所必须的探测系统参数的操作.
1.8 多探针 multiple styli,multiple stylus
探测系统装有带一个或若干个探针的多探针系统,或带几个探针的单探针系统或探测系统是多测头系统,或探测系统能在多方位上定位的一个或几个探针.
